（電子材料濕熱測試之無霜高低溫濕熱試驗箱）

　　濕熱測試是產品三防（防潮、防霉、防）試驗之一，被廣泛用于電子電工技術領域。高低溫濕熱試驗箱是利用高溫低溫循環(huán)變化測試來評估電子元器件、半導體、IC芯片等產品對溫度變化的抵抗能力。主要是利用低溫循環(huán)變化，來測試電子、半導體、IC芯片等產品上各層不同物質之熱膨脹俘數(shù)不同，而可能引起之故障機制。

　　一、產品基本參數(shù)

　　溫度范圍：-40℃→+150℃

　　溫度波動度：≤±0.5℃

　　溫度均勻度：≤±2℃

　　升溫時間：-40℃→+150℃約55min非線性空載

　　降溫時間：+20℃→-40℃約60min非線性空載

　　濕度范圍：20%～98%R.H

　　濕度波動度：≤±2%R.H

　　濕度均勻度：≤±3.0%

　　標準負載能力：5KG鋁片，300W發(fā)熱量

　　二、為什么要做濕熱試驗？

　　1、探索潮濕環(huán)境對產品的影響（開發(fā)、設計階段的研究性試驗）

　　2、鑒定產品的防潮性能（研制，生產階段的質量檢查或型式試驗）

　　3、評價產品在潮濕環(huán)境下使用的安全可靠性（安全或可靠性試驗）

　　三、濕熱試驗的意義

　　恒定濕熱通過先升溫再升濕（先降濕再降溫）的方法避免產生凝露，主要是通過高溫高濕環(huán)境下樣品對水汽吸附、吸收和擴散等作用，造成產品失效。

　　四、濕熱試驗的標準

　　GB-89低溫技術條件;

　　GB-89高低溫試驗箱技術條件;

　　GB-89溫熱試驗箱技術條件;

　　GB-89高溫試驗箱技術條件;

　　GR/T-1996電工電子產品環(huán)境基本參數(shù)檢定方法溫度;

　　GB/T5170.5-1996電工電子產品環(huán)境基本參數(shù)檢定方法濕熱;

　　GB2423.22-87電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗N：溫度變化試驗方法;

　　GB2423.1-89電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法;

　　GB2423.2-89電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法;

　　GB2423.3-91電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法;

　　GB2423.4-91電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法;

　　GB2424.1-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導則。